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海德汉敞开式直线光栅尺系列应用

更新时间：2021-08-06 点击次数：983次

海德汉敞开式直线光栅尺

敞开式直线光栅尺设计用于对测量精度要求*的机床和系统。

典型应用包括：

半导体业的测量和生产设备
PCB电路板组装机
超高精度机床
高精度机床
测量机和比较仪，测量显微镜和其它精密测量设备
直驱电机

绝对式编码器

系列	说明
LIC	LIC敞开式直线光栅尺能够对行程达28 m和高速运动进行绝对位置测量。其尺寸和安装方式与LIDA 400相同。

输出位置值的编码器

系列	说明
LIP 200	LIP 211和LIP 291增量式直线光栅尺输出位置值的位置信息。正弦扫描信号在读数头中被高倍频细分且其计数功能将细分的信号转换成位置值。与所有增量式编码器一样，借助参考点确定绝对原点。

增量式编码器

系列	说明
LIP	超高精度 LIP敞开式直线光栅尺拥有极小的测量步距，*的精度和重复精度。扫描方式为干涉扫描，测量基准为DIADUR相位光栅。
LIF	高精度 LIF敞开式直线光栅尺的测量基准是SUPRADUR工艺制造的玻璃基体光栅，采用干涉扫描方法。特点是精度高和重复精度高，安装特别简单，有限位开关和回零轨。特殊型号的LIF 481 V可用于10–7 bar的真空环境中（参见其单独“产品信息"）。
LIDA	高速运动和大测量长度 LIDA敞开式直线光栅尺特别适合运动速度达10 m/s的高速运动应用，支持多种安装方式，安装特别简单。根据相应应用要求，METALLUR光栅的基体可为钢带，玻璃或玻璃陶瓷。也有限位开关。
PP	二维坐标测量 PP二维编码器的测量基准是平面DIADUR工艺制造的相位光栅，采用干涉扫描方法。用于测量平面中位置。
LIP/LIF	高真空和超高真空技术我们的标准编码器适用于低真空或中等真空应用。高真空或超高真空应用的光栅尺需要满足一些特殊要求。采用的设计和材质必须满足应用要求。更多信息，参见“真空中应用的直线光栅尺"产品信息。以下敞开式直线光栅尺专用于高真空或超高真空应用环境。 • 高真空：LIP 481 V和LIF 481 V • 超高真空：LIP 481 U

LIC 4100

型号	基线误差		基体和安装方式	细分误差	测量长度
	精度等级	局部
LIC 4113 LIC 4193	± 3 μm ± 5 μm	≤ ± 0.275 μm/ 10 mm	玻璃或玻璃陶瓷光栅尺，嵌入在安装面中	± 20 nm	240 mm 至3040 mm
LIC 4115 LIC 4195	± 5 μm	≤ ± 0.750 μm/ 50 mm (typ.)	钢带光栅尺穿入在铝壳中并预紧	± 20 nm	140 mm 至 28440 mm
LIC 4117 LIC 4197	± 3 μm ± 5 μm ± 15 μm	≤ ± 0.750 μm/ 50 mm (typ.)	钢带光栅尺穿入在铝壳中并固定	± 20 nm	240 mm 至 6040 mm
LIC 4119 LIC 4199	± 3 μm ± 15 μm	≤ ± 0.750 μm/ 50 mm (typ.)	钢带光栅尺粘贴在安装面上	± 20 nm	70 mm 至 1020 mm
LIC 4119 FS	± 3 μm ± 15 μm	≤ ± 0.750 μm/ 50 mm (typ.)	钢带光栅尺粘贴在安装面上	± 20 nm	70 mm 至 1820 mm

LIC 2100

型号	基线误差		基体和安装方式	细分误差	测量长度
	精度等级	局部
LIC 2117 LIC 2197	± 15 μm		钢带光栅尺穿入在铝壳中并固定	± 2 μm	120 mm 至 3020 mm
LIC 2119 LIC 2199	± 15 μm		钢带光栅尺粘贴在安装面上	± 2 μm	120 mm 至 3020 mm

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